Дифракционный структурный анализ 2-е изд., пер. и доп. Учебное пособие для вузов

Эрнест Суворов

Тип: PDF книга

Жанр: Физика

Язык: на русском языке

Издательство: ЮРАЙТ

Дата публикации: 31.05.2024

Отзывы: Пока нет Добавить отзыв

О книге: В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.